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AOI檢測(cè)系統(tǒng)的通用架構(gòu)，該系統(tǒng)由光源，相機(jī)陣列、顯微復(fù)檢、集群并行處理系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、主控計(jì)算機(jī)、服務(wù)器組成，以及與工廠數(shù)據(jù)中心互聯(lián)的工業(yè)局域網(wǎng)組成。該系統(tǒng)架構(gòu)具有大幅面表面缺陷低分辨率快速檢出和高分辨率顯微復(fù)檢兩種功能。從圖中可以看出，完整的AOI系統(tǒng)不僅集成了照明與光學(xué)成像單元，還需要有被測(cè)件支撐傳輸單元、精密運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)與控制單元、高速并行圖像處理單元等。

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視頻作者：深圳市億昇精密光電科技有限公司

自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是根據(jù)底片檢查工藝特性，采用透射的模式即將需要檢查的底片放置在玻璃桌臺(tái)上,而不采用抽真空臺(tái)面，而是通過(guò)玻璃桌面的下的光束透過(guò)玻璃進(jìn)行對(duì)底片的掃描來(lái)檢查底片相應(yīng)位置上的缺陷。使用這種方法對(duì)底片進(jìn)行表面質(zhì)量的檢查,為更加清晰的將印制板表面缺陷呈現(xiàn)出來(lái)，對(duì)該系.統(tǒng)的放大裝置作“了很大的改進(jìn),達(dá)到了既是印制板表面的很小的缺陷都能檢查出來(lái)。當(dāng)在印制板生產(chǎn)過(guò)程中使用該系統(tǒng)時(shí)，就能將印制板面的5μm和5μm以下的缺陷檢查出來(lái)，并且能夠適當(dāng)?shù)膮^(qū)別錯(cuò)誤的真假,就是采用高1級(jí)的識(shí)別系統(tǒng)大大的減少故障缺陷的發(fā)生。

AOI檢測(cè)設(shè)備的大致流程是相同的，多是通過(guò)圖形識(shí)別法。即將AOI系統(tǒng)中存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字化圖像與實(shí)際檢測(cè)到的圖像進(jìn)行比較，從而獲得檢測(cè)結(jié)果。例如，檢測(cè)某個(gè)焊點(diǎn)時(shí)，按照一個(gè)完好的焊點(diǎn)建立起標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字化圖像，與實(shí)測(cè)圖像進(jìn)行比較，檢測(cè)結(jié)果是通過(guò)還是不通過(guò)，取決于標(biāo)準(zhǔn)圖像、分辨力和所用檢測(cè)程序。圖形識(shí)別中會(huì)用到各種算法，如求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求邊角等。